各種各樣的觀察方法，可自由使用
快速簡便地獲取觀察需要的圖像
工業顯微鏡觀察方法的理想之選，奧林巴斯數碼顯微鏡DSX510可提供各種各樣的觀察方法，呈現給用戶對TALL端的光學系統所期望的TALL分辨率圖像。更多詳細內容請搜索。
BF
明場觀察——
普遍的顯微鏡觀察方法  DF
暗場觀察——
鑒別缺陷的適合方法。
從樣品側面照明以突出瑕疵。  MIX (BF + DF)
明場+暗場組合觀察——
同時使用明場和暗場，將明場
觀察的簡便性和暗場觀察對缺
陷的突出效果結合在一起。  DIC
微分干涉觀察——
檢查不平坦表面或
納米缺陷的理想之選。  PO
偏振光觀察——
消除基板眩光的重要技術，
以精確地呈現樣品的表面特征。

僅需點擊一下鼠標便可選擇觀察方法
僅需點擊一下鼠標便可選擇幾乎所有的顯微觀察方法，奧林巴斯數碼顯微鏡DSX510 使選擇正確的觀察方法變得簡單。無需復雜的調整——僅需簡單的在觀察方法（明場、暗場、MIX [明場 + 暗場]、微分干涉、偏振光）之間選擇，便可呈現滿足精確觀測所需的TALL品質圖像。