CINDBEST_CT-6_非真空高低溫探針臺測試系統
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| 產品單價: |
詢價 |
| 起訂件數: |
1 件 |
| 供貨總量: |
10000 件 |
| 所在產地: |
北京 |
| 有效期至: |
長期有效 |
| 最后更新: |
2021-09-12 18:04 |
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詳情介紹
CINDBEST CT-6|6~12 非真空高低溫探針臺測試系統
特點/應用
◆ *大可用于12英寸以內樣品測試
◆ 采用密閉腔結構,屏蔽外部電信干擾同時保持氮氣正壓環境下樣品在低溫時無結霜
◆ 優化的腔體保溫結構可以極大的減少液氮消耗量
◆ 可升降調節適合加裝探針卡
◆ 可搭配多種類型顯微鏡
◆ 結構模塊化設計,可無縫升級
◆ 探針臺可根據客戶要求定制。 
規格
臺體:
型號:CT-6/CT-8/CT-12
樣品臺尺寸:6英寸/8英寸/12英寸
水平旋轉 :可360度旋轉,可微調15度,精度0.1度,帶角度鎖死裝置
X-Y移動行程:6英寸*6英寸/8英寸*8英寸/12英寸*12英寸
X-Y移動精度:10微米/1微米
樣品固定: 真空吸附,中心吸附孔,多圈吸附環
針座平臺: U型針座平臺,*多可放置6~12個探針座
平臺升降: 可快速升降10mm/可微調升降10mm
背電極測試:樣品臺電學獨立懸空,4mm插孔可接背電極
溫度范圍 :負80°到正400°
溫控精度 :0.01°/0.1°/1°
重量:約120千克/150千克
光學系統:
顯微鏡類型:單筒顯微鏡/體式顯微鏡/金相顯微鏡
放大倍率:16X-200X/20X-4000X
移動行程:水平方向繞立柱旋轉/XY軸移動4英寸,Z軸行程50.8mm
光源:外置LED環形光源/同軸光源
CCD:200萬像素/500萬像素/1200萬像素
定位器:
X-Y-Z移動行程:12mm*12mm*12mm
移動精度: 10微米/2微米/0.7微米/0.5微米
吸附方式 :磁力吸附/真空吸附
線纜:同軸線/三軸線
漏電精度: 10pA/100fA/10fA
固定探針: 彈簧固定/管狀固定
接頭類型:BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子
針尖直徑: 0.2微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米
針尖材質: 鎢鋼/鈹銅
可選附件
加熱臺
顯示器
轉接頭
射頻測試配件
屏蔽箱
光學平臺
鍍金卡盤
光電測試配件
高壓測試配件
顯微鏡快速傾仰裝置
激光系統
探針卡夾具
規格及設計如有更改,恕不另行通知。
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